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    日本進(jìn)口TECLOCK得樂(lè )數顯測厚儀介紹 PF-11J

    發(fā)布時(shí)間: 2022-08-02  點(diǎn)擊次數:

    日本進(jìn)口TECLOCK得樂(lè )數顯測厚儀百分表介紹和使用 PF-11J PFD617 SMD540由深圳市安川測量?jì)x器有限公司特價(jià)銷(xiāo)售日本進(jìn)口TECLOCK得樂(lè )數顯測厚儀介紹 PF-11J PFD SMD,恒壓數顯測厚儀用于測量橡膠/熱塑性彈性體、塑料薄膜、布匹、紡織品、皮革等物理測試的試片厚度,具有立式(固定式)和框架式(手提式)兩種類(lèi)型。

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    數顯測厚儀PF-11J

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    品陣容廣泛,適用于各種行業(yè)標準。 

    所有機型砝碼式的高精度數位板,實(shí)現了使用齒輪和彈簧等的模擬式量規無(wú)法得到的穩定的靜負荷。

     PG系列在測量臺上除了使用高平滑性以外,還使用耐磨損性、耐化學(xué)藥品性等優(yōu)異的石平臺(微孔石墨)。 不易劃傷,也不用擔心金屬制的請求。 在測量頭砧上尋找不銹鋼銅(部分除外)。 提高了耐酸性、耐堿性、耐水性。

     電源是不需要充電的紐扣型電池。 便于攜帶。 

    也可以變更測量頭、測量壓力等。 (但不符合標準規格)

    立式測厚儀+臺座PG-20G

     測量頭直徑5mm,壓力變更只需裝卸砝碼即可進(jìn)行。

    立式測厚儀+臺座PG-20G

     測量頭直徑5mm,壓力變更只需裝卸砝碼即可進(jìn)行。

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    數顯測厚儀使用注意:

    1.在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

    測量時(shí)側頭與試樣表面保持垂直。

    測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

    測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。

    測量前要注意周?chē)渌碾娖髟O備會(huì )不會(huì )產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì )將會(huì )干擾磁性測厚法。

    測量時(shí)要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

    在測量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì )影響測量的讀數。


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